HRE 系列

HRE 系列 EMC 高分辨率扫描仪,带 3D 或 4D 扫描功能

HRE 系列 EMC 高分辨率扫描仪,带 3D 或 4D 扫描功能

 

超高分辨率EMC预兼容扫描

HRE系列有两种不同的尺寸,以适应大多数DUT的需要。25μm的超高扫描分辨率与探头旋转相结合,以及一流的扫描软件,HRE系列可以提供功能强大的可视化EMC预兼容扫描测试。可选的 IC 扫描测试套件配有专用的检测摄像头和高分辨率近场探头,让您甚至可以扫描 IC芯片 内部的电磁干扰信号发射和抗扰度热点。

如何执行 EMC 扫描?

一个完整的扫描仪系统由 EMC 扫描仪硬件套件、Detectus 扫描软件 (DSS)、频谱分析仪和运行扫描仪软件的 PC 组成。如果客户需要,Pendulum Instruments可以提供全部系统,但通常情况下客户已经拥有自己的 PC 和频谱分析仪。

将测试对象放在扫描坐标板上,一个小型近场探头按照扫描软件设定并可重复的路径在测试对象上方进行移动扫描,同时记录场强。在每个扫描位置上近场探头输出的信号由频谱分析仪测量,并传输到扫描仪软件。扫描系统软件将空间位置信息(X,Y,Z)与该位置的电磁辐射信号的频谱相结合,并显示详细的结果。

Detectus 设计的领先性能

扫描仪的步长为 25 μm,可以在模块包装内部精确定位发射源,甚至通过使用 IC测试选件来却确定 IC 内部的电磁辐射信号热点

您可以使用Pendulum Instruments标准近场探头套件扫描直到10 GHz频率范围的电磁辐射信号。如果用户拥有更高的频率,例如70 GHz,的近场探头,那们在通常情况下EMC扫描仪也可以连接使用这些探头进行扫描,扫描仪软件没有频率范围的限制,但客户的频谱分析仪需要能够支持这些探头更高的频率范围。

在 Detectus HRE 系列扫描仪中,您可以选择两种不同的扫描尺寸,带或者不带探头旋转,以适合大多数的测试对象。扫描区域 (WxDxH) 如下所示:

280x180x85mm (3D or 4D*)

390x290x130 mm (3D or 4D*)

* 4D = 3D xyz movement, plus probe rotation 0 to 360o

Detectus HRE扫描仪的优点

在产品设计的早期阶段使用 EMC预兼容测试扫描仪,您可以检测潜在的辐射和抗扰度问题并及时纠正。如果这些问题已经集成到产品中后再去扫描检测,那么纠正的成本就会很高昂。

如果产品在EMC认证测试中未通过,通常您只会知道哪个频率没有通过,而不会知道噪声源的位置信息。EMC 扫描仪可以帮助您找到电磁辐射噪声源的位置,在您重新设计产品时可以进行多次重复测量,帮助您降低电磁辐射信号的强度以便顺利通过认证测试。

同样如果您产品的问题是抗干扰问题,您可以选择抗干扰测试选件来扫描产品的电磁敏感区域,并可以重复测量,加强您产品的抗电磁信号干扰特性。

您可以对不同的设计解决方案的电磁辐射进行比较测量,而且由于扫描仪的超高分辨率步长(25μm)扫描,您甚至可以分析IC或紧凑型模块内部的EMI噪声,。

EMC 扫描仪可以帮助在生产线上保证产品质量,通过对生产线上的样品进行测量,并很容易将测量结果与参考标准进行比较。通过这种方式可以确保,例如在更换元器件/模块的供应商的情况下,不会导致电磁辐射信号超标。

 

世界一流的软件能够看到电磁辐射信号的分布

易于使用且功能丰富的 DSS 软件可让您在元器件级别,甚至在芯片的内部,测量和可视化显示电磁辐射信号的强度和位置,测量结果可以二维或者三维彩色显示,并可以轻松的重复测量,从而可以对多次的测量结果进行客观比较。

由于扫描仪可以精确的重复扫描,测量结果可以保存,所以在产品的板级升级改进过程中,可以对不同版本的电路板的电磁辐射测量结果进行精确比较。扫描仪软件甚至允许两个扫描结果相减,以得到由于任何电路板布局或组件变化而引起的电磁辐射信号的真正差异。

Comparative measurements of EMI for six different  IC de-coupling capacitor alternatives

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